原子力显微镜在纳米测量技术中的应用  

作　　者：刘兰娇[1] 

机构地区：[1]长春理工大学,长春130022

出　　处：《山东工业技术》2014年第21期18-18,共1页Journal of Shandong Industrial Technology

摘　　要：纳米测量技术作为21世纪计量测试领域研究的重点,一直深受国内外专家的关注。原子力显微镜(AFM)在其研究过程中一直发挥着非常重要作用。论文根据纳米测量所涉及的两个重要领域:纳米长度测量和纳米级的表面轮廓测量,以及在实验教学过程中的教学实践,列举了AFM在纳米测量技术教学中的运用案例。实践证明,AFM在实验教学中起到了非常重要的作用,它能促进学生对课程的学习兴趣,同时又能帮助学生加强对抽象概念的理解,从而增强学生的应用能力。

关 键 词：纳米技术 原子力显微镜 纳米测量技术 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]