PIC病灶自发荧光特征与萎缩进展速率分析  

作　　者：陈蕾[1] 华瑞[1] 柳力敏[1] 胡悦东[1] 

机构地区：[1]中国医科大学附属第一医院眼科,沈阳市110001

出　　处：《中国激光医学杂志》2014年第5期300-300,共1页Chinese Journal of Laser Medicine & Surgery

摘　　要：目的：观察点状内层脉络膜病变（PIC）的自发荧光（AF）特征，利用共聚焦扫描检眼镜（CSLO）评估RPE萎缩病灶进展速率。

关 键 词：自发荧光 速率 病灶 PIC 脉络膜病变 RPE 检眼镜 共聚焦 

分 类 号：R773.4[医药卫生—眼科]