论红外成像系统的最小可分辨温差  

作　　者：王忆锋[1] 刘萍[1] 

机构地区：[1]昆明物理研究所,云南昆明650223

出　　处：《云光技术》2015年第1期1-13,共13页

摘　　要：最小可分辨温差（MRTD）是量度红外成像系统整机性能的一个重要参数，它不仅包括了系统特性，也包括了观察者的主观因素。借助MRTD可以对整机空间分辨率和温度分辨率进行综合评价。介绍了与MRTD相关的基本概念的理解，讨论了不同类型MRTD测试系统的特点，介绍了MRTD测试过程中有关问题的处理方法。

关 键 词：最小可分辨温差 温度分辨率 四杆靶 红外成像系统 

分 类 号：O472[理学—半导体物理]