检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中航工业西安航空计算技术研究所,陕西西安710065
出 处:《微型机与应用》2015年第8期29-31,34,共4页Microcomputer & Its Applications
摘 要:随着电子产品小型化以及复杂化的发展,电源完整性的设计已经成为了制约高速电路设计成败的关键因素之一。能够正确地测试到电源完整性参数对于产品调试来说是最根本、最重要的一部分。为了能够获取精确测试电源完整性参数,从测试设备以及被测物两个角度出发,结合原理分析以及建模仿真的方法,得出了电源完整性测试的正确方法,并且提供了测试步骤。With of the key factors to the most fundamental EUT, combined with supply, and provides the miniaturization and complexity of electronic product development, design of power integrity has become one the success of high-speed circuit design. Properly testing the power integrity parameters for product debugging is and most important part. In order to obtain accurate power integrity test parameters, from test equipment and the principles and modeling simulation analysis, it obtains the proper Way to test the integrity of the power a test procedure.
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.3