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作 者:黄亮[1] 李志锋[1] 周易[1] 陈建新[1] 陆卫[1]
机构地区:[1]中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海200083
出 处:《红外与毫米波学报》2015年第2期166-171,共6页Journal of Infrared and Millimeter Waves
基 金:国家重点基础研究发展计划(2011CB922004);国家自然科学基金(61376053;61405231)~~
摘 要:报道了InAs/GaSb二类超晶格红外探测器的瞬态光伏响应特性.通过对p-b-i-n二类超晶格探测器对皮秒脉冲激发的瞬态响应特性的分析及拟合,获得了器件的表观少数载流子的寿命.并对不同尺寸台面结构单元器件进行测试分析,发现少数载流子寿命随着台面面积的增大而增大,归结为由于侧壁表面效应带来的影响.所测器件的少数载流子为空穴,其表观寿命约为2~12 ns.The transient photovoltaic responses in InAs/GaSb type- Ⅱ superlattice infrared photodetectors under picosec- ond pulsed laser illumination are reported. By analyzing the dynamic processes in the transient response curves of the p- b-i-n structured type-Ⅱ superlattice detectors, the apparent carrier lifetime can be obtained. A series of single element devices with different mesa areas have been investigated. The minority carrier lifetime trends to increase as the mesa area increases, implying a reduced surface recombination resulted from the un-passivated side-walls of the mesa. The investi- gated minority carriers are attributed to holes, with the apparent lifetime in the range 2 - 12 ns.
关 键 词:InAs/GaSb二类超晶格 瞬态特性 红外探测器
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