航空电子综合化设备测试性设计  

Testbility Design of Avionic Integrated Equipment

作　　者：张玲[1] 

机构地区：[1]信息产业部电子第十研究所,四川成都610036

出　　处：《电讯技术》2002年第4期53-56,共4页Telecommunication Engineering

摘　　要：本文介绍了机内自动测试 (BIT)的基本概念 ,提出了一种解决航空电子综合化设备测试性设计的方法 ,并对设备中主要部分的BIT设计作了详细的阐述。In this paper the concept of Built in Test (BIT) is introduced,a method for the testability design of avionic integrated equipment is proposed with emphasis on the BIT design of major parts.

关 键 词：航空电子 综合化设备 测试性设计 自动测试 

分 类 号：V243[航空宇航科学与技术—飞行器设计]