面板数据单位根似然比检验研究  

Research on Likelihood Ratio Type Tests for Unit Roots in Panels

作　　者：张华节[1] 黎实[2,3] 

机构地区：[1]西南财经大学工商管理博士后科研流动站 [2]西南财经大学统计学院 [3]新疆财经大学统计与信息学院

出　　处：《统计研究》2015年第4期85-90,共6页Statistical Research

基　　金：国家自然科学基金“截面相关与非球型扰动条件下平稳与非平稳面板数据线性建模技术研究”(11071130);中央高校基本科研业务费专项资金“面板数据单位根检验的稳定性研究”(JBK1307082);中央高校基本科研业务费项目(重点研究基地立项项目)“金融数量研究中心”(JBK120405)资助

摘　　要：本文采用似然比类检验统计量进行面板单位根检验(简称为LR检验)研究,在局部备择假设成立的条件下,推导了其在无确定项、仅含截距项以及存在线性时间趋势项三种模型下所对应的渐近分布与局部渐近势函数。Monte Carlo模拟结果显示,当面板数据中含确定项(截距项或时间趋势项)时,LR检验水平比LLC和IPS检验水平更接近给定的显著性检验水平;此外,当面板数据中包含发散个体时,经水平修正后的LR检验势要远远高于经水平修正后的LLC与IPS检验势,其中,经水平修正后的LLC与IPS检验势接近于零。This paper proposes Likelihood Ratio （LR hereafter） type test statistics for testing unit roots in panels. Under the local alternative hypothesis, it derives the asymptotic distributions and power functions of the LR type test statistics based on the three models, i.e. without deterministic terms, with intercept and linear time trend. Monte Carlo simulations show that the empirical size of LR test is closer to the given significance level than that of LLC and IPS tests, when there are intercepts or time trends in models. In addition, when some units may be explosive in panel data, the size- adjusted power of LR test is much larger than that for LLC and IPS tests, whose size-adjusted power is close to zero in the cases.

关 键 词：似然比类检验 局部备择假设 渐近分布 

分 类 号：O212[理学—概率论与数理统计]