检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:丁志平[1]
机构地区:[1]东华大学信息科学与技术学院,上海201620
出 处:《微型机与应用》2015年第10期20-21,24,共3页Microcomputer & Its Applications
摘 要:航天应用中,单粒子翻转引发SRAM型FPGA的错误最多,而EDAC设计在纠错模块中有着广泛的应用。将依据扩展海明码设计的[40,32]EDAC模块嵌入到ARINC 659的双口数据DPRAM和指令SRAM中,提高了总线控制器的容错处理能力。In the space environment, the most fault in SRAM type FPGA is the effect of single event upset (SEU). The EDAC module has a broad application in the field of aerospace error detection. In this paper, we use extension Hamming code to design [40,32] EDAC module and algorithm, which is embedded in ARINC 659 data dual port RAM and instructions SRAM module, to improve the fault tolerance ability of the ARINC 659 bus controller.
关 键 词:ARINC 659 单粒子翻转 错误检测与纠正 海明码
分 类 号:TP37[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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