基于边界扫描技术的PCB测试平台设计  

作　　者：王凤驰[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团电子第三十八研究所,安徽合肥230031

出　　处：《中小企业管理与科技》2015年第18期214-214,共1页Management & Technology of SME

摘　　要：在PCB测试领域,边界扫描测试技术由于设备量低、成本低、测试工程开发简单等优势,得到了广阔的发展。我们以边界扫描测试技术为基础设计了PCB(印刷电路板)测试平台,并对许多复杂的PCB进行了测试。同时我们根据在测试开发中遇到的问题,对可测性设计提出了一些建议。

关 键 词：边界扫描 PCB测试 测试平台 可测性设计 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]