检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:汪延明 付宏威 徐林炜 苗振林 梁智勇 许亚兵 戚运东
出 处:《材料导报(纳米与新材料专辑)》2015年第1期229-232,共4页
摘 要:研究了ITO与n-GaN方阻的大小关系对电流扩展的影响,结果表明,在一定电极图形设计下,当ITO方阻大于n-GaN层方阻时,电流朝P电极附近集中,当ITO方阻小于n-GaN层方阻时,电流朝N电极附近集中,只有在ITO与n-GaN方阻接近时,芯片电流扩展才最佳。The influence of sheet resistance relation between ITO and n-GaN layers on the current spreading was researched. The result indicated that the current crowding nearby the P-electrode when the sheet resistance of ITO greater than n-GaN layer, the current crowding nearby the N-electrode or N-PAD when the sheet resistance of ITO less than n-GaN layer under a confirm electrode pattern. Current spreading was the best when the sheet resistance of ITO was close to the n-GaN layer .
分 类 号:TN312.8[电子电信—物理电子学]
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