基于粒子群算法的瞬态电流测试生成研究  

作　　者：曾晓杰[1] 

机构地区：[1]娄底职业技术学院,湖南娄底417000

出　　处：《福建电脑》2015年第10期1-3,共3页Journal of Fujian Computer

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60173042)

摘　　要：瞬态电流测试(IDDT Testing)法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。但测试时需要一次生成两个或两个以上向量,且测试向量的生成比较复杂,因此提高测试效率的关键在于寻找高效的测试向量产生算法。本文提出了一种基于粒子群算法的瞬态电流测试向量产生方法来快速地寻找出集成电路故障。粒子群算法具有内在的变异特性,全局搜索能力强,易于实现。通过对标准的ISCAS’85与ISCAS’89部分电路的SPICE(Simulation program with integrated circuit emphasis)模拟,获得了较好的故障检测率。

关 键 词：粒子群算法 瞬态电流 SPICE模拟 测试产生 

分 类 号：TP301.6[自动化与计算机技术—计算机系统结构]