我国测试技术现状及差距  

作　　者：刘广荣 

出　　处：《半导体信息》2007年第3期28-28,共1页Semiconductor Information

关 键 词：测试技术 集成电路测试仪 小规模集成电路 测试系统 测试设备 测试方法 中国电子报 测试理论 大型生产线 设备水平 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]