集成电路测试仪

作品数：42被引量：43H指数：4
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基于STM32的数字集成电路测试仪的设计被引量：1
《实验室科学》2021年第4期71-73,78,共4页于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 
天津科技大学大学生实验室创新基金(项目编号:1902A401)。
设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片。系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力。采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,...
关键词：STM32 数字集成电路测试仪 实验教学 
基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制
《电脑知识与技术》2021年第19期141-142,144,共3页于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 刘曼迪 吴丹 
天津科技大学大学生实验室创新基金项目(1902A401)。
研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明:该测试仪操作...
关键词：阈值法 STM8 74LS系列芯片 
基于集成电路测试仪控制模块设计研究
《电子技术与软件工程》2021年第3期89-90,共2页陆俊峰 
本文在通信架构基础上,找出通信模式的主要瓶颈,并设计并出更为高效的设计优化方案以此来提升整个通信架构速率,全面推进集成电路产业的健康、高效发展。
关键词：集成电路测试仪 控制模块 信号同步 
集成电路测试仪控制模块设计
《区域治理》2020年第39期195-195,共1页倪友福 
随着时代的进步,集成电路生产企业快速发展,测试技术发展面临新的要求,集成电路制造中集成电路测试是一项关键技术。所以,深入研究集成电路测试技术与设备具有非常重要的意义。基于此,本文从以下几方面简单分析了集成电路测试仪控制模...
关键词：集成电路 测试仪 控制模块 
基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计
《电子技术与软件工程》2017年第7期88-88,共1页殷凤媛 李翔 
设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便...
关键词：AT89S52 自动测试仪 
一种低成本、多用途的电子器件（IC）测试系统
《变频技术应用》2015年第3期41-43,共3页
在小批量电子产品生产中，IC器件的来料检测，历来令人头痛——高大上的集成电路测试仪价格太高，低价位的IC测试仪覆盖的器件种类少，而且测试效果往往不能令人满意。《汇能》测试系统能在较低的价位上，在可接受的测试质量内，提供对...
关键词：电子器件 测试系统 集成电路测试仪 低成本 用途 IC器件 产品生产 测试效果 
小型数字集成电路测试仪的设计和实现被引量：8
《湖北理工学院学报》2015年第1期27-29,共3页张玲 李同瀚 梅军进 
湖北理工学院大学生创新项目(项目编号:13cx25);湖北理工学院创新人才项目(项目编号:13xjz05c);湖北省自然科学基金项目(项目编号:2014CFC1091)
为对小型数字集成芯片进行测试和诊断,以89C51为微控制器芯片(MCU),74HC595和74HC165为被测电路的测试引脚扩展芯片,提出了一种数字集成电路测试仪的实现方案。利用MCU芯片对数字集成电路的测试引脚进行信号采集,通过比对后检测电路是...
关键词：测试信号 微控制器 数字集成电路 
基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计被引量：1
《电子测试》2014年第3X期10-11,共2页于维佳 
开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。
关键词：数字集成电路 测试仪 C8051F410 液晶显示 
数字集成电路测试仪硬件的设计被引量：1
《中国电子商情（科技创新）》2014年第2期152-152,共1页黄华 
论文从集成电路测试仪器硬件的设计思路、设计要求、硬件设计的方法、软件的配套设计等方面进行探讨，以提升数字集成电路测试仪器硬件设计的可行性和可靠性，并针对软件与硬件设备的相互结合来开发数字集成电路测试仪器进行分析。
关键词：数字集成电路 硬件设计 测试仪器 配套设计 硬件设备 可靠性 可行性 软件 
基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的设计被引量：4
《电子技术应用》2013年第5期89-92,共4页尹超平 张秉仁 赵吉祥 
基于模块化虚拟仪器的设计思想,设计出一种以VIIS-EM平台为核心,以LabVIEW为工具进行图形化编程的虚拟数字集成电路测试仪,并论述了其实现方案。重点分析了硬件电路的搭建思路和软件的控制流程,最后给出虚拟数字集成电路测试仪的测试结果。
关键词：虚拟仪器 VIIS—EM LABVIEW 数字集成电路 
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