数字集成电路测试仪

作品数：13被引量：20H指数：2
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基于STM32的数字集成电路测试仪的设计被引量：1
《实验室科学》2021年第4期71-73,78,共4页于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 
天津科技大学大学生实验室创新基金(项目编号:1902A401)。
设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片。系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力。采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,...
关键词：STM32 数字集成电路测试仪 实验教学 
基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制
《电脑知识与技术》2021年第19期141-142,144,共3页于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 刘曼迪 吴丹 
天津科技大学大学生实验室创新基金项目(1902A401)。
研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明:该测试仪操作...
关键词：阈值法 STM8 74LS系列芯片 
小型数字集成电路测试仪的设计和实现被引量：8
《湖北理工学院学报》2015年第1期27-29,共3页张玲 李同瀚 梅军进 
湖北理工学院大学生创新项目(项目编号:13cx25);湖北理工学院创新人才项目(项目编号:13xjz05c);湖北省自然科学基金项目(项目编号:2014CFC1091)
为对小型数字集成芯片进行测试和诊断,以89C51为微控制器芯片(MCU),74HC595和74HC165为被测电路的测试引脚扩展芯片,提出了一种数字集成电路测试仪的实现方案。利用MCU芯片对数字集成电路的测试引脚进行信号采集,通过比对后检测电路是...
关键词：测试信号 微控制器 数字集成电路 
基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计被引量：1
《电子测试》2014年第3X期10-11,共2页于维佳 
开发了一种数字集成电路测试仪,该测试仪以C8051F410微控制器为核心,用户可针对不同待测芯片来选择+3.3V或+5V电源供电,操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互,能够对常用的74系列数字集成电路芯片进行快速、稳定的功能性测试。
关键词：数字集成电路 测试仪 C8051F410 液晶显示 
数字集成电路测试仪硬件的设计被引量：1
《中国电子商情（科技创新）》2014年第2期152-152,共1页黄华 
论文从集成电路测试仪器硬件的设计思路、设计要求、硬件设计的方法、软件的配套设计等方面进行探讨，以提升数字集成电路测试仪器硬件设计的可行性和可靠性，并针对软件与硬件设备的相互结合来开发数字集成电路测试仪器进行分析。
关键词：数字集成电路 硬件设计 测试仪器 配套设计 硬件设备 可靠性 可行性 软件 
基于ARM7数字集成电路测试仪的设计被引量：1
《数字技术与应用》2012年第4期134-134,136,共2页戴家友 
本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。
关键词：测试仪 LPC2103 检测 集成电路 
基于AT89C51的数字集成电路测试仪的设计被引量：7
《电子质量》2010年第8期7-9,共3页闫露露 王容石子 尹继武 
以单片机AT89C51为核心,通过串口与下位机通信,设计了一种通过电脑操作,单片机控制的数字集成芯片测试仪,该系统能对常用的20种74系列数字集成电路作出准确快速的功能检查。系统主要由控制及测试、上位机通信两部分组成。控制及测试部...
关键词：集成电路 测试 上位机 串口通信 
数字集成电路测试仪硬件的设计被引量：2
《中国高新技术企业》2009年第20期35-36,共2页孔得丰 
文章从实验室的需要提出了设计数字集成电路测试仪器的设想,提出了研发数字集成电路测试仪的必要性和可行性,并阐述了如何在硬件支撑下通过硬件和软件的结合开发数字集成电路测试仪器。
关键词：PC机 C语言 单片机 硬件 集成块 数字集成电路测试仪 
用单片机控制的数字集成电路测试仪
《邵阳学院学报（社会科学版）》1995年第2X期24-27,共4页宋跃 
本文叙述了用8031单片计算机控制的测试电路,介绍了硬件结构和软件程序流程。结果表明,这种测试电路体积小、重量轻、效率高、性能/价格比高。
关键词：I/O扩展口 电源和地控制 测试集 
DICT-1型数字集成电路测试仪
《杭州电子工业学院学报》1995年第1期56-59,共4页章坚武 章望生 
本文介绍采用单片微处理技术的DICT－1型数字集成电路测试仪的工作原理，主要功能及其硬件和软件结构。该测试仪具有体积小，重量轻，测试快，功能强等特别，具有较高的性能价格比。
关键词：集成电路 数字集成电路 测试仪 微机 
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