面向单粒子翻转效应的模拟故障注入技术  

Simulation fault injection technology for single event upset

作　　者：于航[1,2] 王晶[1,3] 周继芹[1,3] 李亚[1,2] 张伟功[1,3,4] 

机构地区：[1]首都师范大学信息工程学院,北京100048 [2]首都师范大学北京市高可靠嵌入式系统技术工程研究中心,北京100048 [3]北京数学与信息交叉科学2011协同创新中心,北京100048 [4]成像技术北京市高精尖创新中心,北京100048

出　　处：《计算机工程与设计》2016年第1期107-111,131,共6页Computer Engineering and Design

基　　金：国家自然科学基金项目(61472260);国家自然科学基金青年基金项目(61402302);北京市自然科学基金项目(4132016)

摘　　要：通过分析基于VHDL模拟故障注入技术对SEU故障注入的不足,提出一种基于VHDL与C语言混合的注入方法。在此基础上,设计实现一款面向SEU的仿真故障注入平台,对该平台的结构及主要模块进行详细的描述。以LEON 2处理器为目标系统进行故障注入实验,实验结果验证了该平台能够实现有效的故障注入。By analyzing the weakness of current several ways of SEU fault injection based on VHDL technology,an injection method mixed by VHDL and C language was proposed.A simulation and fault injection platform was designed,and the structure and main module function of this platform were described in detail.The effectiveness was validated by the experimental results of fault injection,having LEON 2processor as the objective.

关 键 词：故障注入 单粒子翻转效应 标准硬件描述语言 C语言 可靠性验证 

分 类 号：TP302.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]