红外高发热精密探测器中恒温控制模块设计  

Design of temperature control module for infrared high temperature precision detector

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作  者:黄栋[1] 李建杰[1] 袁旭军 

机构地区:[1]上海理工大学光电信息与计算机工程学院,上海200093 [2]上海科源电子科技有限公司,上海201101

出  处:《光学仪器》2016年第2期154-158,共5页Optical Instruments

摘  要:为了提高红外探测器在实际工作中的性能和稳定性,设计了一种针对高发热红外精密传感器的自动调节探测器外围温度的装置。该装置利用C8051F350单片机对半导体制冷片进行制冷、制热和不同功率运行的控制,保持探测器外围温度的稳定。通过PID算法编程,结合多点测量实现环境温度的均匀性和稳定性。实验结果表明,在一天的工作时间内,该装置可使探测器外围的温度控制在20℃,控制精度为±0.5℃,显著提高了探测器的性能。In order to improve the performance and stability of the infrared detector,we design a temperature contoller to adjust the external temperature of the infrared detector intelligently.This equipment uses C8051F350 MCU to control refrigeration,heating and different power operation of semiconductor chilling plate.The uniformity and stability of environmental temperature of infrared detector is realized by PID algorithm and multi-point measurement.The experimental results show that the peripheral temperature of infrared detector was maintained at 20 ℃ with deviation of 0.5 ℃ during one-day working time,and demonstrate that this equipment could significantly improve the performance of the detector.

关 键 词:半导体制冷 MCU PID算法 性能 

分 类 号:TP273.5[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

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