半导体器件  

出　　处：《电子科技文摘》2000年第7期15-15,共1页Sci.& Tech.Abstract

摘　　要：Y2000-62096-147 0010879利用 CMOS 传感器阵列的芯片应力特性的测试芯片=Test chip for die stress characterization using arrays ofCMOS sensors[会,英]/Bradley,A.T.& Jaeger,R.C.//Proceedings of the IEEE 1999 Custom IntegratedCircuits Conference.—147～150(UC)Y2000-62096-557 0010880器件/衬底分析和电路合成(收录论文7篇)=Session26:devices/substrate analysis and circuit synthesis[会,英]//Proceedings of the IEEE 1999 Custom IntegratedCircuits Conference.—557～586(UC)所收录的论文题目有:在1V CMOS

关 键 词：半导体器件 传感器阵列 应力特性 混合信号集成电路 收录论文 论文题目 芯片 和电路 衬底噪声 合成法 

分 类 号：TN[电子电信]