测量技术与设备  

出　　处：《电子科技文摘》2005年第2期60-68,共9页Sci.& Tech.Abstract

摘　　要：IELDVD051:8721 05035302003年 IEEE 欧洲测试会议录=2003 the eighth IEEEEuropean test workshop[会,英]/IEEE Computer Soci-ety Test Technology Technical Council（TTTC）.— 160P.（E）本会议录收集了会上发表的25篇论文,内容涉及深亚微米生产测试中的 I_DDQ测试评估,CMOS 电路电源线开关噪声评估,STIL 自动测试程序生成。

关 键 词：开关噪声 生产测试 深亚微米 会议录 程序生成 自动测试 测量系统 虚拟仪器 系统级芯片 测试系统 

分 类 号：TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]