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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:裴选[1,2] 彭浩[1,2] 席善斌[1,2] 张魁[1,2] 高兆丰[1,2] 黄杰[1,2]
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051 [2]中电科技电子可靠性工程技术有限公司,北京100083
出 处:《电子质量》2016年第5期56-58,共3页Electronics Quality
摘 要:该文简述了GB/T 4937《半导体器件机械和气候试验方法》系列标准目前的制订现况。重点针对GB/T 4937-1995中第Ⅱ篇第1章引出端强度,阐述了GB/T 4937-1995版标准存在的弊端,以及新制定标准GB/T 4937.14《半导体器件机械和气候试验方法第14部分:引出端强度(引线牢固性)》的优越性。The present situation of formulating national series standar-GB/T 4937 Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods was discribed in the paper.Focusing on the chapter 1 of article Ⅱ in national standard-GB/T 4937-1995 named Robustness of terminations,the disadvantages of GB/T 4937-1995 and the advantages of the new-formulated standards of GB/T 4937.14-Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods-Part 14:Robustness of terminations(lead integrity)was introduced in detail.
分 类 号:TN303[电子电信—物理电子学]
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