分立器件测试中的失效与预防措施  

作　　者：齐增亮[1] 罗友哲 雷云飞[1] 王小龙[1] 

机构地区：[1]陕西省电子信息产品监督检验院,陕西省西安市710004

出　　处：《电子技术与软件工程》2016年第12期134-134,共1页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：本文总结了分立器件的几种主要的失效模式和失效原因,着重提出了在测试中避免避免器件失效的若干措施。

关 键 词：分立器件 半导体器件 失效 测试 

分 类 号：TN303[电子电信—物理电子学]