关于遍历测度乘积的遍历性  

Ergodicity on Ergodic Measure Product

作　　者：林一星 

机构地区：[1]龙岩师范学校,福建龙岩364000

出　　处：《Journal of Mathematical Research and Exposition》2002年第2期285-288,共4页数学研究与评论（英文版）

摘　　要：本文利用拟特征标序列收敛的零一律与遍历测度的关系[1],讨论了遍历测度乘积的遍历性．In this paper, we discuss evgodicity of ergodic measure product by means of therelations between the zero-one law of the convergence of quasi-character sequence and ergod-ic measure.

关 键 词：遍历测度 拓扑 测度空间 拟特征标序列 收敛 零一律 

分 类 号：O174.12[理学—数学]