大米Cd(Ⅱ)无干扰检测新方法  

出　　处：《传感器世界》2016年第9期40-40,共1页Sensor World

摘　　要：合肥智能机械研究所黄行九和安徽光学精密机械研究所赵南京组成的研究小组通过将电化学方法与激光诱导击穿光谱（LIBS）联用实现了对大米中痕量污染物Cd（Ⅱ）无干扰检测，此联用法为复杂样品重金属离子检测提供了新的思路。

关 键 词：Cd(Ⅱ) 干扰检测 大米 激光诱导击穿光谱 痕量污染物 电化学方法 精密机械 智能机械 

分 类 号：TS210.7[轻工技术与工程—粮食、油脂及植物蛋白工程]