脑卒中后抑郁状态患者近红外光脑成像观察  

作　　者：杨智权[1] 米立新[1] 汪杰[1] 张黎明[1] 

机构地区：[1]首都医科大学附属北京康复医院康复诊疗中心,北京100144

出　　处：《中国康复医学杂志》2016年第10期1139-1141,共3页Chinese Journal of Rehabilitation Medicine

摘　　要：卒中后抑郁（post-stroke depression,PSD）发生率高达40%—50%,其中约15%为重度抑郁[1]。近红外光谱成像技术（functional near-infrared spectroscopy,f NIRS）是脑功能成像技术,广泛应用于神经科学研究领域[2],具有时间灵敏度高、成本低、便于携带安置、执行任务难度低及操作简单等多项优势[3]。

关 键 词：脑卒中后抑郁状态 近红外光谱 脑功能成像技术 脑成像 患者 重度抑郁 科学研究 发生率 

分 类 号：R749.13[医药卫生—神经病学与精神病学] R49[医药卫生—临床医学]