基于多扫描链的片上网络测试集归并方法  

作　　者：黄贵林[1] 郑尚志[1] 吴其林[1] 

机构地区：[1]巢湖学院信息工程学院,巢湖238000

出　　处：《自动化应用》2016年第10期24-26,28,共4页Automation Application

基　　金：巢湖学院校级科研资助项目:芯片测试集合并方法研究(NO:XLY-201409)

摘　　要：电路集成度在不断上升,电路测试的数据量也越来越大,为解决因此造成的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种复用片上网络(No C)架构,多扫描链测试集归并算法,提高了测试可访问性。将扫描链长度长但数量相同的测试集合并短的测试集,逐步将所有不同的测试集归并成一个测试集。实验表明,与同类经典方案相比,该方案的归并压缩率提高了7.6%。

关 键 词：测试集 扫描链 归并 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]