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机构地区:[1]中国电子科技集团公司第41研究所中电科仪器仪表公司 [2]电子信息测试技术安徽省重点实验室,安徽蚌埠233010
出 处:《安徽电子信息职业技术学院学报》2016年第6期1-4,共4页Journal of Anhui Vocational College of Electronics & Information Technology
摘 要:目前国内针对半导体功率器件的测试,主要依靠电压源、电流源、电压表、电流表、晶体管测试仪等多个独立的仪器组成的测试平台进行测试,整个测试系统比较庞大,智能化程度低,操作比较繁琐,可靠性低,标校困难,很难提高测试的精确度和效率。新型半导体功率器件分析仪集成了Windows操作系统,可支持准静态和中频电容对电压测量(CV)、0.1fA和0.5uV电流对电压测量(IV)、脉冲生成、快速IV曲线绘制和时域测量等功能。In China, the current tests for semiconductor power devices mainly rely on a test platform composed of multiple independent instruments such as voltage source, current source, voltmeter, ammeter, transistor tester etc. The test system has a large volume, a low intelligent level, and relatively poor reliability. Also it is difficult to improve its test accuracy and efficiency. A new type of power semiconductor device analyzer integrated with the Windows operating system can support the quasi static and intermediate frequency capacitance to voltage measurement (CV), 0.1fA and 0.SuV current to voltage measurement (Ⅳ), pulse generation, rapid Ⅳcurve drawing and the time domain measurement.
关 键 词:半导体器件分析 高功率模块 斜坡补偿 PWM 负反馈环路控制
分 类 号:TN31[电子电信—物理电子学]
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