FPGA测试方法和流程探讨  

作　　者：付浩[1] 秦浩[1] 

机构地区：[1]中国航空计算技术研究所,陕西西安710068

出　　处：《科技风》2017年第10期77-78,共2页

摘　　要：FPGA(Field Programmable Gate Array,现场可编程门阵列)在开发过程除了包含传统软件开发过程中的需求分析、设计、编码实现过程外,由于其自身特点,还包括逻辑综合、布局布线并生成位流文件后固化到FPGA芯片的过程,进而得到了能够完成系统功能的数字电路硬件。本文根据FPGA的开发流程和特点,针对测试方法进行探讨,并找出与之相适应的测试流程并进行优化,对流程的比对测试表明,优化后的测试流程在保持原有流程问题挖掘能力的同时,在静态时序分析发现问题的情况下能够极大的提高测试工作效率。

关 键 词：FPGA测试 测试方法 静态测试 动态测试 仿真测试 板级测试 

分 类 号：TP334.7[自动化与计算机技术—计算机系统结构]