智能计算与测试技术相结合促进集成电路新技术的发展  

作　　者：许川佩[1,2] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学 [2]桂林电子科技大学广西自动检测技术与仪器重点实验室

出　　处：《电子测量与仪器学报》2017年第8期1161-1161,共1页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

摘　　要：随着半导体工艺与电子设计技术的日臻成熟,越来越多功能各异的IP核被集成在同一电路芯片上,为有效构建片上多核系统,通过借鉴互联网的概念,提出了片上网络（network-on-chip,NoC）技术,将通信与计算分隔开,采用分组路由方式和全局异步-局部同步的通讯机制来实现核间通信,从体系结构上彻底解决了总线架构的局限性,

关 键 词：片上网络 总线架构 多核系统 半导体工艺 通讯机制 测试技术 智能计算 路由方式 体系结构 微流控 

分 类 号：TP18[自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]