基于AT697F的EDAC电路方案设计  

作　　者：黄振 张宏财[1] 陈之涛[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第38研究所孔径阵列与空间探测安徽省重点实验

出　　处：《今日电子》2017年第11期54-55,共2页Electronic Products

摘　　要：空间辐射是给航天器电子设备带来恶劣影响的罪魁祸首。辐射可能导致电子器件和材料性能衰退,甚至失效,同时还会对器件功能、性能造成不同程度的瞬态影响。尤其是单粒子翻转（Single Event Upset）,可能会引起器件电性能状态的改变,造成逻辑器件或电路的逻辑错误,

关 键 词：DAC电路 设计 电子器件 空间辐射 性能衰退 单粒子翻转 EVENT 电子设备 

分 类 号：TN792[电子电信—电路与系统]