CD-R光盘常规检测参数和质量控制  

The routine test parameter of CD-R and quality control

作　　者：陈垦[1] 

机构地区：[1]清华大学光盘国家工程研究中心

出　　处：《记录媒体技术》2003年第2期34-37,共4页China Mediatech

摘　　要：《可记录光盘(CD-R)常规检测参数》(CY/T 38-2001)已于2001年8月由中华人民共和国新闻出版总署批准、公布,并于2002年1月开始实施。本文试图对CD-R光盘的这些常规检测参数的物理意义、对盘片质量的影响、该参数的工艺调整和检测方法等作一阐述,希望对可记录光盘复制企业的质量控制有所帮助。1,偏心 ECC(Eccentricity): 偏心是盘片中心孔的几何中心相对盘片信息道/预刻槽的几何中心的偏差。单位一般用μm表示。在驱动器中光学头读取信息时,轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动,跟随轨道读出信息。径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围,光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度。This paper tries to illustrate the routine test parameters of CD-R disc in the aspects of physical explanation, influence on the quality of discs, process adjustments, test methods, and etc. It may be helpful to quality control for optical disc replication industry.

关 键 词：检测参数 CD-R 光学头 盘片 伺服机构 中心孔 几何中心 质量控制 双折射率 倍速 

分 类 号：TQ596[化学工程—精细化工]