检入管理CIMS系统中的集合覆盖问题SCP研究  

Research on Set Covering Problem in Check in Management System

作　　者：方琼 邵瑾 FANG Qiong;SHAO Jin(Shanghai Zhaoxin Semiconductor Co.,Ltd,Shanghai 201203,China.)

机构地区：[1]上海兆芯集成电路有限公司,上海201203

出　　处：《集成电路应用》2018年第7期18-21,共4页Application of IC

基　　金：国家科技重大专项课题(2014ZX01029101)

摘　　要：在图形处理芯片GPU芯片架构设计过程中,针对C-model源代码管理,设计了一套检入管理系统CIMS(Check In Management System),并根据集合覆盖原理提出一种新的优选策略,用于筛选CIMS系统中的测试用例。实验表明,该算法获得的测试集合,在时间约束条件下,能有效覆盖已有代码,充分发挥预检功能。In GPU architecture design, a check in management system is designed for the management of the C-model source code. In order to select the test cases in CIMS, an algorithm is proposed based on the principle of set covering. Experimental studies are being performed that demonstrate the effectiveness of the algorithm on code coverage improvementsin the limitation of time.

关 键 词：集成电路设计 源码版本管理 集合覆盖 测试用例筛选 贪心算法 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学] TP301.6[自动化与计算机技术—计算机系统结构]