基于智能卡操作系统的测试系统设计  

Design of the Test System on Intelligent Card Operating System

作　　者：宋莉莉 陈君 SONG Lili;CHEN Jun(Shanghai Fudan Microelectronics Group Co.,Ltd,Shanghai 200433,China)

机构地区：[1]上海复旦微电子集团股份有限公司,上海200433

出　　处：《集成电路应用》2018年第7期67-70,共4页Application of IC

摘　　要：在智能卡操作系统开发过程中,要遵循软件工程的要求。测试是其中的重要环节。在介绍智能卡操作系统的体系结构基础上,根据COS的特点给出了智能卡测试系统设计方案,并且该测试系统在实践中得到了很好的应用。具有较高的实用价值。Soft engineering should be followed in developing smart card＇s chip operation system. Test is one of the primary parts. First the smart card＇s chip operation system is introduced, the test scheme is discussed to meet the needs of chip operation system. And the test system has been well applied in practice. This test system has high practical value.

关 键 词：集成电路测试 智能卡操作系统 测试用例 测试脚本 测试库 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]