自相关过程的EWMA残差控制图的设计与性能评价  

作　　者：尚云艳[1] 郭鹏江[2] 夏志明 

机构地区：[1]西京学院理学院 [2]西京学院科研处 [3]西北大学数学学院,西安710123

出　　处：《统计与决策》2018年第17期174-176,共3页Statistics & Decision

摘　　要：为提高对自相关过程均值发生中小漂移检测的效能,文章引入过程检测能力指数,结合基于AR（2）模型的EWMA残差控制图,通过检测能力指数判断控制图在均值发生漂移时各个时刻检测能力的强弱程度,调整AR（2）模型参数;最后通过Monte-Carlo模拟,与传统残差控制图和自相关残差控制图相比较;结果均显示EWMA残差控制图对中小漂移的检测具有较高的灵敏性。

关 键 词：自相关过程 残差 EWMA控制图 过程检测能力指数 

分 类 号：O213.1[理学—概率论与数理统计]