一种高分辨谱方法的建议——反卷积法  

作　　者：吴义芳[1] 汤俊雄[1] 赵奕平 郑乐民[1] 

机构地区：[1]北京大学无线电电子学系,100871

出　　处：《量子电子学报》1992年第1期34-35,共2页Chinese Journal of Quantum Electronics

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：在经典高分辨光谱技术中,通常可用一窄带滤波器(例如F-P干涉仪)作光谱分析元件,当滤波器带宽ΔνT远小于待分辨光谱线宽时可直接分辨出光谱线型。它的光谱分辨率取决于滤光器的通带宽度,但是ΔνT越窄,透过的光通量越小。因此,这种方法很难用于检测弱光,尤其是带宽又窄的弱光信号。 我们提出一种新的高分辨谱方法——反卷积法。其基本思想是用一带宽和待分辨光谱带宽相近的滤波器去替代传统的窄带滤波器,然后用反卷积方法复原出光谱线型。

关 键 词：反卷积法 谱方法 高分辨 光谱线型 无线电电子学 窄带滤波器 Rayleigh散射 反卷积算法 光谱分辨率 谱分析 

分 类 号：TN201-55[电子电信—物理电子学]