电子元器件内部水汽治理的实施与展望  被引量:6

Implementation and Development of Water Vapor Control in Electronic Components

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作  者:王闯[1] 董磊[1] 张佳鑫 王莉 姜良 

机构地区:[1]中国运载火箭技术研究院物流中心

出  处:《航天工业管理》2018年第11期40-42,共3页Aerospace Industry Management

摘  要:元器件内部水汽含量超标会对元器件的性能、贮存寿命和可靠性带来严重影响,水汽含量超标造成的失效在元器件使用或贮存一段时间后才能发现,难以通过无损质量检验及在应用初期中发现,且一旦发现,一般为批次性质量问题,常常会给型号研制生产带来进度拖延、质量成本大幅增加等严重后果,对航天型号产品质量可靠性构成严重威胁.

关 键 词:内部水汽含量 电子元器件 质量可靠性 展望 治理 航天型号产品 贮存寿命 质量检验 

分 类 号:TN60[电子电信—电路与系统]

 

参考文献:

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