一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成  

BIST Structure and Test Vector Generation Based on a Controlled LFSR

作　　者：胡晨[1] 许舸夫[1] 张哲[1] 杨军[1] 

机构地区：[1]东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏南京210096

出　　处：《电路与系统学报》2002年第3期13-16,共4页Journal of Circuits and Systems

摘　　要：本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器(LFSR)进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。使用受控LFSR可以跳过伪随机测试序列中对故障覆盖率没有贡献的测试矢量,从而达到减少测试矢量长度,缩短测试时间的目的。A new BIST structure with the method of test vector generation based on a controlled LFSR is proposed. BIST with a controlled LFSR can skip pseudo-random test vectors not contributing to the fault coverage, thus the length of test vectors and the time of test are reduced.

关 键 词：线性反馈移位寄存器 内建自测试 矢量跳变 芯片 矢量生成电路 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]