检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]华中科技大学光电子工程系
出 处:《华中科技大学学报(自然科学版)》2002年第10期99-101,共3页Journal of Huazhong University of Science and Technology(Natural Science Edition)
基 金:国防科技重点实验室基金资助项目
摘 要:在对光辐射的响应电压进行测试的基础上 ,对面阵CCD采集系统光电变换非线性度测试方法进行了探讨 ,给出了测试原理、方法以及实验结果 ,分析了最小二乘拟合法在CCD采集系统中的应用 ,研究结果表明 :所测实验数据准确 ,方法可行 .The degree of non-linearity is an important parameter of the static characteristic of a device. This article presents a discussing on the method of measuring optoelectric conversion in area CCD through measuring response voltage of light radiance. The principle, method and the results of experiment are all provided. The least-square method applied to CCD graph fitting is also analyzed. The result shows that the datum is accurate and the method is reliable.
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