“双靶对接”高增益类Ne锗软X光激光实验研究  

作　　者：王世绩[1] 顾援[1] 傅思祖[1] 周关林[1] 余松玉 倪元龙[1] 吴江[1] 韩国强[1] 周正良[1] 万炳根[1] 陶祖聪 彭惠民[2] 盛家田[2] 张覃鑫[2] 邵云峰[2] 张国平[2] 林尊琪 王树森 陈万年 范滇元 

机构地区：[1]中国工程物理研究院上海激光实验室,上海201800 [2]北京应用物理与计算数学研究所,北京100088 [3]高功率激光物理联合实验室,上海201800

出　　处：《中国科学（A辑）》1991年第2期151-160,共10页Science in China(Series A)

摘　　要：本文采用新颖的“双靶对接”技术,利用强度～1.2×10^(13)W/cm^2,波长1.053μm,脉宽～1ns的两路激光线聚焦辐照平面厚锗双靶,观察到波长为19.6,23.2,23.6,24.7和28.6nm的5根类Ne锗3p-3s跃迁谱线的放大。波长为23.2和23.6nm的谱线,增益长度积GL的值均超过13。对X光激光发射的发散角、折射角及时间特性等,也进行了实验现察,为深入了解X光激光的产生和传播,提供了有意义的信息。

关 键 词：X光谱光 类Ne锗 双靶对接 高增益 

分 类 号：TN241[电子电信—物理电子学]