基于ARM的数字集成电路测试系统的研究  

作　　者：张建文 

机构地区：[1]华润赛美科微电子(深圳)有限公司,广东深圳518000

出　　处：《中国新技术新产品》2018年第9期21-22,共2页New Technology & New Products of China

摘　　要：为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调试结果表明:本文提出的数字集成电流测试系统设计方案满足设计要求。

关 键 词：ARM 数字集成电路测试 软件架构 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]