第五届高分辨率对地观测学术年会在西电开幕  

出　　处：《西安电子科技大学学报》2019年第1期180-180,共1页Journal of Xidian University

摘　　要：2018年10月17日上午,第五届高分辨率对地观测学术年会在西电开幕。来自国内外高校、科研院所、企事业单位的1200余名专家、学者代表和学生齐聚一堂,共同探讨高分辨率对地观测创新发展的新时代课题。校长杨宗凯代表学校对年会的召开表示祝贺。他指出,西电在电子信息领域深耕80余年,在雷达信号处理、第三代半导体材料与器件、集成电路封装、人工智能等领域领先全国。由西电主持研制的高速图像压缩芯片“雅芯-天图”搭载高分十一号卫星发射升空并传回了高分辨率遥感图像。希望以承办此次高分年会为契机,与高分领域的同仁们瞄准高分发展的最前沿,提出新概念、交流新技术、探讨新机制、共享新成果、支撑新应用,以主动服务国家需求的责任意识和使命意识,勇于担当、共同努力,为我国航天事业的发展做出更大的西电贡献。

关 键 词：高分辨率遥感图像 学术年会 对地观测 第三代半导体材料 雷达信号处理 集成电路封装 图像压缩芯片 企事业单位 

分 类 号：P22-2[天文地球—大地测量学与测量工程]