国产VDMOS板级热特性的现代研究  

在线阅读下载全文

作  者:范培培 程萍[1] 刘伟鑫 张辉 

机构地区:[1]上海交通大学,上海200240 [2]上海精密计量测试研究所,上海201109

出  处:《科学与信息化》2017年第34期189-189,191,共2页Technology and Information

摘  要:板级验证是国产元器件应用验证的一个重要环节,本文以国产VDMOS为对象,对其板级热特性进行了深入研究,得到了国产器件的板级热特性与导通电流、开关频率等工作条件的关系。

关 键 词:国产元器件 VDMOS 板级热特性 

分 类 号:TN386.1[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象