检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:龚永林
机构地区:[1]不详
出 处:《印制电路信息》2019年第7期67-67,共1页Printed Circuit Information
摘 要:HDI板中微小导通孔基本都采用激光钻孔系统获得,因为孔直径小,更多的是盲孔,对钻孔质量难以及时检测。CIMS公司推出最新的解决方案GalaxyVIA系统,一种称为Vialight的全新的照射装置,采用透射光检查微小孔,以获得孔内部最精确的图像。该系统能够检测直径小于20mm的激光孔,能够检测到内部尺寸,识别孔内污染和碎片、堵塞等缺陷,以及孔位超出允许公差范围的偏移。同时,配置数据软件包可及时反馈到激光钻孔实时过程控制。
关 键 词:检测 光孔 实时过程控制 激光钻孔 IMS公司 HDI板 钻孔质量 公差范围
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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