航天用探测器组件芯片寿命考核方法研究  

作　　者：娄光楠 王成刚[1] 解一文[1] 东海杰[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第十一研究所

出　　处：《科技视界》2019年第22期31-32,共2页Science & Technology Vision

摘　　要：红外焦平面探测组件是军事侦察、预警卫星等航天遥感仪器的核心组件,其应用环境特殊且出现故障无法修复,这就对航天用探测器组件提出了高可靠、长寿命的实际要求。探测器芯片作为探测器组件的重要组成部分,其工作寿命直接影响探测器组件的工作寿命。本文对航天用探测器组件的工作环境、失效模式进行了分析,找到导致失效的应力,并结合工作剖面,给出寿命考核方法,以供探讨。

关 键 词：探测器芯片 失效 工作寿命 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]