高压大功率开关晶体管少子寿命与诸电参数之间的关系及其控制技术的研究  

作　　者：郑继义 

机构地区：[1]八七七厂,西安710000

出　　处：《半导体技术》1992年第1期28-33,共6页Semiconductor Technology

摘　　要：本文研究了少子寿命与开关晶体管主要电参数之间的相互制约关系,探索了少子寿命的控制技术。

关 键 词：开关晶体管 少子寿命 电参数 控制 

分 类 号：TN323.6[电子电信—物理电子学]