有害气泡的动态I_R检测法  

作　　者：赵富[1] 葛淑欣 

机构地区：[1]石家庄市自动化研究所,石家庄050031

出　　处：《半导体技术》1992年第2期33-36,7,共5页Semiconductor Technology

摘　　要：为了判断玻璃封装整流器件内是否存在有害气泡而研究了一种在线动态I_R检测法。该方法是根据有害气泡的物理特性,通过对动态I_R随时间和温度的变化规律进行分析而实现。文章给出了判定有害气泡存在的两组I_R-t曲线族,并介绍了具体的检测方法。应用该检测法成功地判定从荷兰进口的大批玻封硅堆中存在大量有害气泡。

关 键 词：整流器件 封装 气泡 检测 

分 类 号：TN350.594[电子电信—物理电子学]