集成电路在要害系统应用的相关技术  

Technology about IC in critical application

作　　者：杨江[1] 路荣先[2] 李治[1] 

机构地区：[1]西南交通大学电气工程学院,四川成都610031 [2]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621900

出　　处：《半导体技术》2003年第1期16-19,共4页Semiconductor Technology

摘　　要：介绍了IC在要害系统的应用现状。对IC在要害系统的应用特点、应用策略、相关支持技术、IC的失效分析及故障测试技术进行了探讨。该技术对在要害系统IC的使用者会有很大的帮助。The present situation of IC used in critical application is introduced. Thecharacteristics, strategies,some sustaining technologies in critical application, IC failure analysis,fault testing are also discussed. These technologies are helpful for users in IC critical application.

关 键 词：集成电路 要害系统 应用 IC应用 失效分析 IC测试 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学] TP211[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]