IC测试

作品数：103被引量：62H指数：6
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基于可跨层重构LFSR的3D-SIC内建自测试方案
《微电子学与计算机》2025年第3期100-109,共10页陈田 罗蓓蓓 刘军 鲁迎春 
国家自然科学基金(62174048,62027815)。
针对三维堆叠集成电路(Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits,3D-SIC)中测试面积开销和测试数据存储量大的问题,对于n层3D-SIC,提出了一种基于可跨层重构线性反馈移位寄存器(Cross-Layer Reconfigurable Linear Feedback Shif...
关键词：可跨层重构LFSR BIST 测试数据压缩 3D-SIC测试 
一种用于IC测试的精密测量单元电路设计
《电子测量技术》2024年第11期13-19,共7页夏进 刘士兴 李航 李帮金 梁华国 
国家自然科学基金重大科研仪器研制项目(62027815)资助。
随着集成电路产业的快速发展,对集成电路测试要求越来越高,精密测量单元是集成电路直流参数测试的核心单元。本文设计了一种用于集成电路测试的PMU电路,该电路使用现场可编程门阵列控制DAC模块施加电压激励,激励信号经PI调节器和功率放...
关键词：集成电路测试 直流参数测试 精密测量单元 现场可编程阵列 
集成电路测试教学中的产教融合模式分析
《集成电路应用》2024年第4期72-73,共2页张鹏展 张冷 李玉魁 吴有龙 杨娟 王昭诚 
江苏省教育科学“十四五”规划2021年度课题(No.C-c/2021/01/58);金陵科技学院‘数字赋能应用型高校高质量人才培养’专项课题(SZH202408)。
阐述集成电路测试人才培养模式的探索实施过程,包括构建人才培养方案与课程体系、建立基于产教融合的校企人力资源共建共享机制、搭建IC测试产教融合平台。介绍人才培养取得的成效。
关键词：集成电路 IC测试 校企合作 产教融合 共享机制 
基于FPGA的IC自动测试系统设计被引量：2
《安徽电子信息职业技术学院学报》2023年第2期1-6,共6页陈道泉 
浙江省教育厅一般科研课题“基于FPGA的IC自动测试系统及其监控云平台关键技术研究”(Y202249623)。
基于FPGA技术设计了一种IC自动测试系统,通过总线通信的优化实现了板卡的柔性化组合与拓展。系统能自动识别槽位上的模块型号,并按系统CONFIG要求分配资源。实践表明,该系统可满足数字类IC和模拟类IC的量产测试需求,适用于IC的芯片验证...
关键词：FPGA IC测试 柔性化测试 
Chroma新产品发表会 新一代高效能Power IC测试平台
《世界电子元器件》2022年第11期26-26,共1页
Chroma致茂电子于21日发表新一代Chroma 3650-S2高效能Power IC测试平台,吸引了超过60家中国台湾半导体公司、近200位半导体业界先进参与。电源转换、电池与电源管理(PMIC)相关的半导体技术突飞猛进,不仅使电动车相关产业起飞,更高的电...
关键词：半导体技术 IC测试 电源管理 电源转换 人工智慧 Power 电池充电 中国台湾 
低噪声高分辨IC测试系统设计被引量：1
《传感器世界》2021年第12期27-32,共6页齐学红 汪海波 
江苏省苏北科技专项(No.SZ-HA2019009)。
集成电路(IC)测试要求高速、高分辨率、高信噪比的信号采集系统,设计一套合适的采集系统具有极其重要的意义。论文分析了IC测试系统的组成原理,设计了低噪声信号调理电路并分析噪声系数;设计了可调相位延迟的时钟采样电路,有效实现低抖...
关键词：IC测试 低噪声 高分辨率 误差校正 
5G效应叠加芯片投片放量,IC测试接口厂商业绩看涨
《电子工业专用设备》2021年第4期49-49,共1页
数字化加速转型,包括5G智能手机、笔记本台式机及平板、服务器、人工智能及云端高性能(AI/HPC)应用出货旺盛至年底,带动相关芯片持续供不应求且价格不断上涨。另外,新规格芯片扩大在代工厂的投片规模,预计同步拉高IC测试板厂商业绩。据...
关键词：图像处理器 IC测试 老化测试 持续增长 智能手机 GPU 代工厂 
信息技术设备的受限制电源-限流IC控制输出(Component IC Current Limiter)
《电子元器件与信息技术》2021年第2期21-22,共2页胡华军 袁天亮 凌正曦 
电子产品日益更新,技术也随着升级,产品体积越来越小,线路中的集成模块越来越多,以满足我们对产品小而精和小而美的需要。但是产品虽小,但是产品的安全和材料的防火标准要求始终是没有发生变化的。
关键词：信息技术设备 IEC60950-1 受限制电源 隔离变压器 防火外壳 限流IC控制输出(Component IC Current Limiter) 集成IC测试 判断方法 
浅析去耦电容在ATE测试板的应用被引量：3
《中国集成电路》2020年第11期83-85,共3页陈丹熠 季晓燕 杨振学 
随着数字集成电路的不断发展,集成电路的瞬时功耗也在不断提高,对于芯片供电具有一定的挑战。本文结合一款瞬时功耗较大的芯片,介绍了去耦电容在ATE测试板上的具体应用,说明了在芯片测试过程中去耦电容的重要性。
关键词：去耦电容 ATE IC测试 
用于SCA ASIC测试的数字读出模块设计
《原子核物理评论》2020年第1期74-81,共8页钱思璠 赵雷 陈晗 刘树彬 安琪 
中国科学院前沿科学重点研究项目(QYZDB-SSW-SLH002);安徽省杰出青年科学基金资助项目(1708085J07)。
高速开关电容阵列(SCA)具有高速采样、低功耗的特点,基于SCA的高速波形数字化是目前高精度时间测量的一个重要研究方向。为此,我们开展SCA芯片的研究,目前已设计完成原型ASIC设计,并正在进行后续版本的改进设计。为便于未来多版本ASIC...
关键词：ASIC测试 开关电容阵列 FPGA USB3.0 PYTHON 
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