季晓燕

作品数：5被引量：12H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团第五十四研究所更多>>
发文主题：MMIC功率放大器测试装置测试仪器测试向量生成更多>>
发文领域：电子电信文化科学经济管理更多>>
发文期刊：《中国集成电路》《电子科技》《无线电工程》更多>>
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浅析去耦电容在ATE测试板的应用被引量：3
《中国集成电路》2020年第11期83-85,共3页陈丹熠 季晓燕 杨振学 
随着数字集成电路的不断发展,集成电路的瞬时功耗也在不断提高,对于芯片供电具有一定的挑战。本文结合一款瞬时功耗较大的芯片,介绍了去耦电容在ATE测试板上的具体应用,说明了在芯片测试过程中去耦电容的重要性。
关键词：去耦电容 ATE IC测试 
毫米波功率放大器输出级电路设计被引量：1
《中国集成电路》2017年第1期47-51,共5页季晓燕 王志平 廖春连 
毫米波功率放大器MMIC输出功率的大小直接决定了发射机的作用距离、抗干扰能力及通信质量,可广泛应用于卫星通信、雷达设备中。功率放大器MMIC采用A类放大器结构,工作频率为Ka波段,不仅具有频带宽、功率大的特点,而且尺寸小、线性度好...
关键词：晶体管 功率放大器 MMIC 输出级 
Ka波段功率放大器MMIC裸片测试方法
《中国集成电路》2016年第9期69-72,89,共5页季晓燕 
针对系统中对功率放大器MMIC的裸片应用需求,如何对裸片的性能进行测试验证成为一种新的需求。本文介绍了一款Ka波段4w高功率裸片的测试方法,通过将裸片共晶焊接到载体上,再通过金丝键合技术将测试PAD引出,搭建了测试盒体,并考虑到该芯...
关键词：功率放大器 MMIC 裸片测试 
一种半并行多芯片测试方法被引量：5
《无线电工程》2015年第8期83-86,共4页王志平 季晓燕 
为降低射频收发芯片测试成本,在量产测试时需要尽可能提高芯片并行测试的数量。但是由于测试系统硬件限制,当并行测试的芯片数量>4时,测试系统通常实现不了完全意义上的并行测试。通过测试电路板的设计、测试程序的开发和测试程序的调...
关键词：射频收发 V93000测试系统 半并行测试 多芯片 
基于Cadence的DDRⅡ仿真设计被引量：3
《电子科技》2010年第8期5-8,14,共5页赵海舜 王志平 季晓燕 
针对DDRⅡ设计中高速信号的完整性和时序匹配问题,使用EDA工具Cadence仿真设计了DDRⅡ存储器的印制板。通过Cadence软件建立DDRⅡ信号拓扑结构、仿真信号的串扰、码间干扰、过冲等与信号质量相关的参数,从仿真波形中可以测量出与信号时...
关键词：拓扑 仿真 信号完整性 信号质量 时序 
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