检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]合肥京东方光电科技有限公司
出 处:《电子世界》2021年第2期120-124,共5页Electronics World
摘 要:ADS产品SD制程时产生的膜层黑点不良,影响产品良率。本文研究了膜层黑点不良的形成机理和影响因素,结果表明:膜层黑点不良是膜层沉积时,底部膜层水气释放导致的膜层鼓包;SD层前制程工艺Strip0(1st ITO Strip)工序导致的干燥不良,是膜层黑点产生的根本原因;SD设备水气去除能力的差异,导致了成膜机台黑点不良发生率的不同。
分 类 号:S43[农业科学—农业昆虫与害虫防治]
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