检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:史业照 郭斌 郑永军 SHI Ye-zhao;GUO Bin;ZHENG Yong-jun(College of Metrology&Measurement Engineeing,China Jiliang University,Hangzhou 310018,China;Hangzhou Wolei Intelligent Technology Co.,Ltd.,Hangzhou 310018,China)
机构地区:[1]中国计量大学计量测试工程学院,浙江杭州310018 [2]杭州沃镭智能科技股份有限公司,浙江杭州310018
出 处:《仪表技术与传感器》2021年第7期92-96,共5页Instrument Technique and Sensor
基 金:国家自然科学基金面上项目(51775530);工信部2018年智能制造新模式应用项目(Z135060009002);浙江省重点研发项目(2017C01G2080224)。
摘 要:为了研究IGBT模块的开关瞬态特性,搭建一套基于LabVIEW的IGBT模块开关特性测试系统。对IGBT模块开关瞬态过程中的电压过冲进行了机理分析,并运用Saber仿真软件搭建双脉冲测试电路,仿真结果表明:电压过冲主要取决于测试回路中的杂散电感大小。测试电路经杂散电感优化后,通过搭建的IGBT模块开关特性测试系统进行验证,过冲电压同比减少约85%,对于IGBT模块的测试有一定的指导意义。In order to study the switching transient characteristics of IGBT module,a test system of IGBT module switching characteristics based on LabVIEW was built.The mechanism of voltage overshoot in IGBT module switch transient process was analyzed,and the double-pulse test circuit was built by Saber simulation software.The simulation results show that voltage overshoot mainly depends on the size of stray inductance in the test circuit.After the test circuit is optimized by stray inductance,it is verified by the IGBT module switching characteristic test system built,and the overshoot voltage is reduced by about 85%compared with that of the previous year,which has certain guiding significance for the test of IGBT module.
分 类 号:TM23[一般工业技术—材料科学与工程]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:3.145.86.137