检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:马其三
机构地区:[1]深圳市正基电子有限公司,广东深圳518000
出 处:《电子元器件与信息技术》2021年第4期63-64,67,共3页Electronic Component and Information Technology
摘 要:在芯片的封装体系中IC封装基板是重要的构成部分,最直接的功能表现在两个方面,其一是对芯片实施保护,其二是起到下层电路板和上层芯片的连接作用。封装基板可划分为刚性封装基板和柔性封装基板。其中柔性封装基板FICS在电子产品中普遍应用,这些电子产品具备小型化、可移动以及轻量化的特征。柔性IC封装基板表面线路很多已经实现了微米的级别精度,并且向纳米级别挺进的步伐在显著加快,因此对柔性IC封装基板外观检测问题的精度要求极高。本文将介绍该系统的硬件和软件系统,对外观缺陷问题分类进行分析,并通过检测实验数据进行具体阐述。
分 类 号:TN6[电子电信—电路与系统]
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